您的位置:主页 > 新闻中心 > 行业资讯 >

全新光电引进LayTec原位测量技术强化VCSEL制造

行业资讯 / 2021-12-29 16:16

本文摘要:据Max咨询公司透露,中国台湾现代工厂Visualphotonicsepitaxycoltd(VPEC,新光电)最近宣布,横强攻激光(VCSEL)生产引进了德国柏林企业LayTec的现场测量产品。LayTec的EpiTT/VCSEL还包括两个光纤测量头。一个用作标准EpiTT,另一个用作光谱反射率检测(R-VCSEL)。 两种光纤测量头都可以通过EpiCurve测量头的桥法兰扩展连接的EpiCurve/VCSEL系统。

亚博全站APP登录

亚博全站APP官网登录

据Max咨询公司透露,中国台湾现代工厂Visualphotonicsepitaxycoltd(VPEC,新光电)最近宣布,横强攻激光(VCSEL)生产引进了德国柏林企业LayTec的现场测量产品。LayTec的EpiTT/VCSEL还包括两个光纤测量头。一个用作标准EpiTT,另一个用作光谱反射率检测(R-VCSEL)。

亚博全站APP官网登录

两种光纤测量头都可以通过EpiCurve测量头的桥法兰扩展连接的EpiCurve/VCSEL系统。此设置将同时构建EpiCurveTT性能、分布式布拉格镜像(DBR)阻力和腔内倾斜方向的频谱监测功能。该四合一计量工具安装在AixtronG3行星型反应器顶部。

EpiTT/VCSEL和EpiCurveTT/VCSEL由新的软件模块供电,实现单井和多井运营。为了反对全球三维检测和VCSEL芯片的市场需求,LayTec将VCSELAdd-On用作EpiTT和EpiCurveTT系统,可用于额外的现场光谱反射率检测和基于GaAs和InP的近红外/红外(NIR/IRVCSELAdd-On还可用作现有EpiTT或EpiCurveTT系统的升级版本。通过配备高级设备的动态分析算法,除了监测EpiTT的晶片温度和增长率、测定EpiCurveTT的晶片倾斜外,还需要在VCSEL外延过程中监测分布式布拉格反射镜(DBR)电阻和口袋倾斜防卫。

Apple iPhoneX红外图形投影仪的VCSEL芯片来源:《苹果iPhoneX红外图形投影器》 "VPEC为生产VCSEL晶片,自由选择了LayTec市场领先的现场测量技术。被选为构建戴尔高标准质量和产出率的基本因素。”VPEC高级副总裁NeilChen说:“现有的晶片温度,现有的晶片温度,。


本文关键词:全新,光电,引进,LayTec,原位,亚博全站APP登录,测量,技术,强化,据

本文来源:亚博全站APP登录-www.axytwl.com